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主营产品:X射线荧光光谱仪

X射线荧光光谱仪的使用原理

点击次数:226  发布时间:2020-05-19

X射线荧光光谱仪简介

 

采用X射线荧光光谱仪(X-rayFluorescenceSpectrometer,简称:XRF光谱仪)测量,是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。

 

X射线荧光分析被广泛应用于元素和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材领域的调查和研究。在地球化学,法医学,考古学和艺术品等领域也有涉及,例如油画和壁画的鉴定。

 

 

X射线荧光的物理原理

 

当材料暴露在短波长X光检查或伽马射线时,其组成原子可能会发生电离。如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离时,就足以驱逐内层轨道的电子,然而这会使得原子的电子结构不稳定。此时,在外轨道的电子就会“回补”进入低轨道,以填补遗留下来的洞。

 

回补”的过程会释出多余的能源,光子能量是相等两个轨道的能量差异。因此,物质放射出的辐射,这是原子的能量特性。

 

X射线荧光光谱仪的使用型态

 

XRF用X光或其他激发源照射待分析样品,样品中的元素之内层电子被击出,造成核外电子的跃迁。在被激发的电子返回基态的时候,会放射出特征X光。元素不同,会放出不同的各自特征的X光,并且具有不同的能量和波长特性。

 

检测器(Detector)接受这些X光,仪器软件系统将其转为对应的信号。在某种程度上X射线光谱仪与原子吸收光谱仪互补,大大减少了工厂附设的品管实验室的分析人力投入。

 

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