xrf荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法

　　当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质放射出的辐射，这是原子的能量特性。

　　xrf荧光光谱仪工作原理：

　　用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长分开，分别测量不同波的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。

　　xrf荧光光谱仪对象主要有各种磁性材料、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。荧光分析仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据布拉格定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式、同时式谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。

　　xrf荧光光谱仪产品优点：

　　1、采样方式灵活，对于稀有和贵重金属的检测和分析可以节约取样带来的损耗。

　　2、测试速率高，可设定多通道瞬间多点采集，并通过计算器实时输出。

　　3、对于一些机械零件可以做到无损检测，而不破坏样品，便于进行无损检测。

　　4、分析速度较快，比较适用做炉前分析或现场分析，从而达到快速检测。

　　5、分析结果的准确性是建立在化学分析标样的基础上。