X射线荧光光谱仪通常采用哪几种分析方法呢？

　　X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法，是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品。

　　X射线荧光光谱仪主要是由激发源和探测系统构成。它是一种分析技术仪器，它使用X射线与材料的相互作用来确定其元素组成。X射线荧光光谱仪适用于固体、液体和粉末，并且在大多数情况下是非破坏性的。X射线荧光光谱仪是一种现场筛选方法，不会消除对传统实验室分析的需求。随着这项技术的应用，随机样本被带到实验室重新校准X射线荧光光谱仪传感器并确认结果是准确的。

　　X射线荧光光谱仪通常用以下一种或几种方法：

　　1、时间延迟法：由产生荧光的原理可知，荧光从产生到*消失，它有一个时间过程（即从高能级的非稳态跃迁到低能级的亚稳态或稳态的时间）。不同的物质，这个时间的长短是不一样的，它们从几微秒到几分钟不等。我们可以给探测器的快门一个延迟时间，让激发光*消失后开始对荧光采样。在一些特殊条件，如用反射探针测固体、液体的荧光时，光路无法90°布置，这时需要通过延迟采样时间来分离出荧光。

　　2、90°布置法：激发光和探测器90°方向布置。由于荧光没有方向性，它向四周发射，因此可以把探测器放在与激发光成90°的位置来接收荧光。大部分的荧光测量装置都采用此方法（同时常常配上其它方法）。

　　3、滤波法：从荧光产生原理可知，荧光的波长大于激发光的波长。我们在探测器前面放一个长通滤波片，它的截至波长稍大于激发光波长。这样，只有荧光才能被探测器采集。该法的另一个好处是可以滤掉一部分杂散光，但是它也可能滤掉一部分荧光。

　　以上就是X射线荧光光谱仪的相关介绍，供大家参考！