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主营产品:X射线荧光光谱仪

日本理学光谱仪

型 号

产品时间2020-04-17

所属分类日本理学光谱仪

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产品描述:ZSX Primus II日本理学光谱仪采用上照射设计,再不用担心污染光路,清理麻烦和增加清理时间等问题。
产品概述

ZSX Primus II日本理学光谱仪采用上照射设计,再不用担心污染光路,清理麻烦和增加清理时间等问题。 

集合所有ZSX系列的优点:双真空系统,自动真空控制,mapping/微区分析,超轻元素超强灵敏度和自动芯线清洗等。 

ZSX PrimusII日本理学光谱仪可灵活分析复杂样品。30μm超薄窗光管,保证轻元素分析灵敏度。zui的mapping包可以检测同质性和夹杂物。完全具备迎接21世纪实验室挑战,ZSX PrimusII是波长色散扫描式荧光光谱仪,分析精度高。可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 

元素的检量范围从0.0001% ~ 100%,如进行前处理,可以再下降2 ~ 3个数量级。 


1、大幅度提高了超轻元素(B,C)的分析灵敏度、准确度使用理学创的强度***的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75,保证轻元素分析的灵敏度。采用APC自动真空控制机构,保证超轻元素分析的准确度(理学专利)。使用4KW 30um超薄窗、超尖锐、长寿命***管,适合超轻元素分析。

2、采用新光学系统,实现对重元素的高灵敏度分析 

3、强大的粉末样品测试功能 

上照式,可以长时间防止粉末污染分光室 

双泵、双真空设计(样品室/预抽真空室),防止粉末样品的细微粉尘混入分光室 

粉末附件,采用电磁阀真空密封,防止细微粉尘进入真空泵内 

4、加装CCD视频摄像机构,位置分辨率可达100um,可以进行0.5mm的微区分析,可以测量Mapping(理学专利) 

5、提高少量样品的分析准确度 

使用r-θ样品台(理学专利),***了X射线照射不均以及分光晶体强度不均的问题,保证样品在X射线强、条件下测量。 

6、样品室与分光室之间有专用隔膜装置 

7、48位自动进样器 

8、PAS自动调整脉冲高度系统(理学专利) 
ACC自动清洗F-PC芯线系统(理学专利) 
可以保证仪器在***状态下使用 

9、节约能源(自动减少X射线管的输出);节约PR-10气体;节约He气(选用He室时);节省空间 

10、自动监控、自动开关机、自动节能等多功能操作软件 

11、***的软件分析,NEW SQX软件 

12、全中文界面

可以分析材料的状态包括:粉末样品、块状样品、液体样品。 

可以分析材料的领域包括:电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。

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