日本理学荧光光谱仪

ZSX Primus III+日本理学荧光光谱仪该系统使用上照式方法检测，可以安心地分析粉末样品，并配备了3 kW X射线管，以保证其在生产控制分析中的强大分析功能。 软件在发挥了传统ZSX Primus系列的特点的同时，可以用更简单的操作进行现场分析。

从O到U的元素分析

上照射式光学小化污染

小占地面积节省实验室空间

高精度样品定位

特殊光学减少由于弯曲的样品表面造成的错误

统计过程控制（SPC）的软件工具

优化抽空和真空泄露率改善吞吐量

除了减少冷却水量和PR气体的流量外，它还具有节能操作功能，在不执行分析时会自动降低X射线输出，并具有自动关机功能。

“简易分析”模式将一个日常分析所需的分析操作集成到一个屏幕上，通过使用图形用户界面的直观操作，使分析更加容易。

用户使用EZ扫描软件可以在无需任何事先设置即可分析位置样品。这个节省时间的特征仅需点击鼠标和输入样品名称。结合SQX基本参数软件，快速提供准确的XRF结果。SQX能够自动校正包括线重叠的所有矩阵效果。SQX还可以通过光电子（轻、超轻元素）、变化的环境、杂质和不同的样品尺寸校正辅助的激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序提高准确性。

日本理学荧光光谱仪高精度样品定位确保了样品表面与X设吸纳管之间的距离恒定。这对例如合金分析等需要高精度的应用非常重要。ZSX Primus III+使用一个*的光学配置执行高精度分析，用于减少由于例如电熔铢和压片等样品中的非平面表面导致的错误。

ZSX Primus III+理学波长色散型X射线荧光光谱仪具有场新的上照射式光学配置。用户再也不用担心由于维护样品室导致的路径污染或停止时间。上照射式几何结构消除了清扫的担心并增加了时间。