日本理学波长色散X射线荧光光谱仪

日本理学波长色散X射线荧光光谱仪

日本理学波长色散X射线荧光光谱仪是一种扫描型荧光X射线分析仪，具有上照射类型。ZSX指南支持测量和分析，即使初学者也能轻松获得准确的分析结果。数字计数系统、高速驱动测角仪和优化的控制系统可实现高速、高精度测量。通过人工多层累积膜和真空控制机制，可以测量超轻元素。高规格型号还配备了安全可靠的设计，如人为错误预防功能、点映射分析和散射线SQX功能。

上表面照射方式

它采用顶部照射系统，您可以放心地用于常规分析。 粉末样品中的粉末不会对光学系统产生任何影响。 样品保护膜也不需要。

定量应用自动设置功能

只需输入标准样品的标准值和样品信息，即可自动设置分析线和光学系统设置、共存元素校正和重叠校正，即使是初学者也很容易存储校准曲线。

用于薄膜厚度和粘附量分析的最佳测量线搜索和分析评估程序

您可以获得精确的分析线组合、分析线的分析深度信息、上层吸收百分比的模拟结果和干扰线信息。

轻元素XRF性能，带倒置光学元件，实现可靠性

ZSX Primus IV具有创新的光学器件配置。再也不用担心受污染的光束路径或由于样品室维护而导致的停机时间。光学元件以上的几何形状消除了清洁后顾之忧并增加了正常运行时间。ZSX Primus IV WDXRF光谱仪具有性能，可灵活地分析最复杂的样品，具有30微米的管，是业内最薄的端窗管，具有出色的轻元素（低Z）检测限。

绘图和多点XRF分析

结合科学的绘图包来检测均匀性和夹杂物，ZSX Primus IV可以对样品进行简单详细的XRF光谱研究，从而提供其他分析方法不容易获得的分析见解。可用的多点分析还有助于消除不均匀材料中的采样误差。