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X射线荧光光谱仪优势慢慢讲给你听

点击次数:224次  发布时间:2021-06-17
X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水平,分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析,薄膜分析。测量样品的大尺寸要求为直径51mm,高40mm。

X射线荧光光谱仪的产品特点:

1、在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出醉具感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。

2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰,从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。

3、当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰,确保了元素分析的正确性。

4、逃逸峰:由于采用的是针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素的含量较高或者能量较高,其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量值减去Si能量值的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。

5、X射线荧光光谱仪在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。 
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